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特殊孔测量-内花键 (Bowers XT3)

Spline gauging application photo
SBM Internal Spline
Internal Spline Cross Section
Spline Gauging Application Photo

特殊孔测量-内花键 (Bowers XT3)

做为世界领先的内径千分尺制造商,我们为高精密的花键测量提供一系列标准和订制的内径千分尺解决方案。

每个千分尺的测头都可以快速高效地适配我们XT蓝牙系列,以实现准确地结果。

单独的花键测头
Spline Head Gauging Diagram

备有库存的2点式花键测头包括:

  • 20–25mm over 2mm pins
  • 20–25mm over 2.032mm pins
  • 24–29mm over 2mm pins
  • 24–29mm over 2.032mm pins
  • 25–35mm over 2mm pins
  • 25–35mm over 2.032mm pins
特点
  • 可适用于XT或Ultima系列
  • 2点式最为常用,也可提供硬质合金球触点
  • 也可根据需要提供不规则间距的三点式
  • 可提供大径和小径测头
  • 备有常用尺寸的库存
  • 使用标准环规校准
  • 可与标准测头互换
  • 无需许多不同的硬规,包括前/后板、前/后 H/T、不同类别等。大幅降低年度仪表校准成本
  • 提供外部花键框架
发货时间(从英国发出)
  • 库存可在5-7的工作日内发货
  • 寄出内花键千分尺可在4周内发货
  • 订制内花键测头可在4-6周内发货

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